可测性设计(DFT)介绍-入门篇( 二 )


4)ATPG
ATPG(AutomaticTestPatternGeneration)自动测试向量生成是在半导体电器测试中使用的测试图形向量由程序自动生成的过程 。 测试向量按顺序地加载到器件的输入脚上 , 输出的信号被收集并与预算好的测试向量相比较从而判断测试的结果 。
可测性设计(DFT)介绍-入门篇
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5.DFT工程师的岗位职责:
1、芯片级DFT设计与集成 , 包括SCAN,MBIST和JTAG;
2、负责DFT测试向量的自动生成及仿真;
3、与逻辑设计工程师紧密合作 , 提高DFT测试覆盖率;
4、与产品工程师和测试工程师紧密合作 , 调试并解决在测试机上失败的DFT测试向量;
5、芯片级综合;
6、与后端工程师紧密合作 , 完成芯片级timingsignoff;
7、芯片级形式验证
以上便是对DFT的一个基本介绍 , 欢迎大家在评论区留言讨论!
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