精测电子首台12寸晶圆外观缺陷光学检查机成功交付客户摘要：8月23日

摘要：8月23日，精测电子通过官方微信公众号宣布，公司首台12寸晶圆外观缺陷光学检查机在精测电子苏州产业园顺利出机正式交付客户，这是精测电子自主研发的晶圆外观检测设备首次成功交付客户，标志着精测电子在泛半导体检测领域取得又一重要技术突破。精测电子通过官方微信公众号宣布，公司首台12寸晶圆外观缺陷光学检查机在精测电子苏州产业园顺利出机正式交付客户，这是精测电子自主研发的晶圆外观检测设备首次成功交付客户，标志着精测电子在泛半导体检测领域取得又一重要技术突破。

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【精测电子首台12寸晶圆外观缺陷光学检查机成功交付客户】精测电子表示，晶圆缺陷光学检查机的顺利交付是公司在泛半导体检测版图上的又一重大突破，未来，精测电子将继续秉持着良率管理专家的行业定位，深耕品牌，精耕技术，推动泛半导体产业链协同进步，助力行业快速发展。
值得一提的是，今年8月11日，精测电子子公司——上海精测半导体第三批前道光学测量设备也从新厂顺利出货，再度交付于华北大客户。本次向客户输出了EFILM系列光学膜厚测量设备和EPROFILE系列光学关键尺寸测量(OpticalCriticalDimension,OCD)设备。

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据悉，该批次出机的设备均在上海精测半导体新建研发总部装备制造基地完成总装、调试。新装备制造基地坐拥约4000平方米无尘车间，未来将具备150的整机装调机台位，目前已规划五条柔性集成装配、软硬件调试生产线和一条光学分系统离线柔性测调流水线。
编辑：芯智讯-林子