高通|高通被人骂了两年火龙 到底是谁的锅?

这两年啊,想换安卓的小伙伴,肯定都听过这么一段吐槽:
 “888,8Gen1,X 都不买! ” 
高通|高通被人骂了两年火龙 到底是谁的锅?
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虽然这是一句玩笑话,但也能看得出来,这两年安卓的旗舰产品,给大家折腾的有多 “ 爽 ”  。
发布会上的 “ 最强性能 ” 每年都能听到,但功耗却也飙的停不下来 。
咱把时间再往前拨三年 。
那时候,谁没事儿会吹自己用了多好多好的散热黑科技哦 。。
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但是没办法,大家骂归骂,想换安卓机也没啥别的选择 。
但是吧,心里还是不由得想问一句 。
高通这两年,到底为啥这么热?
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发热问题不可避免 
咱知道,只要做功,就一定会带来发热 。
而对芯片来说,这发热则主要由动态功耗和静态功耗两部分构成 。
动态功耗( Dynamic Power )主要指的是芯片在工作时产生的热量,包括电路的充放电,晶体管工作状态的跳变 。
静态功耗( Static Power )主要是指芯片中各种类型的漏电流和竞争电流等等 。
拿开关来举例子的话,动态功耗就像是咱们反复开关这个开关而产生的功耗 。
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而静态功耗就像是这个开关为了维持它当前的状态( 是导通还是截止 ),静置在原地所产生的功耗 。
那咱们做的芯片嘛 。。。
自然是希望晶体管密度越来越高,对应的芯片的性能越来越强,功耗越来越低 。
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然而,芯片才不和你讲什么 “ 理想 ”  。
这几年咱们把 “ 开关 ” 越做越小,动态功耗的的确确是降低了不少 。
但是随着芯片设计进入纳米领域之后,静态功耗的漏电问题就开始翻车,而且越来越严重 。
归其原因,可以理解为 “ 开关 ” 做的太薄了,挡不住两边的电子 “ 偷渡 ”  。。。
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所以想要减少这漏电呢,就需要整点新的结构,新的材料 。
重新构建这又薄,又能阻挡 “ 偷渡 ” 的开关 。
在芯片做到 28nm 的时候,这个技术就是 FinFET ( 鳍式场效应晶体管 ) 。
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而现在工艺慢慢做到 5nm,FinFET 也不太管用了 。
漏电水平仿佛一个圈,重新回到当年 28nm 工艺时的困境 。
这时候,大家伙倒腾出来解决问题的未来新工艺,叫做 GAA ( 全环栅晶体管 ) 。
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